叶兵（中国科学院近代物理研究所副研究员）

叶兵（中国科学院近代物理研究所副研究员）

叶兵（Bing Ye），男，1989年9月22日，中国科学院近代物理研究所副研究员。2008年进入南昌大学攻读本科，2012年赴中国科学院大学完成硕士学业，后通过兰州大学联合培养获博士学位。2017年7月起就职于中国科学院近代物理研究所从事科研工作，2021年5月聘为该所副研究员 。

叶兵主要从事重离子辐射效应、质子辐照及FPGA器件可靠性研究，发表《Evaluating single event effects on 28 nm FPGAs under multi conditions: high-LET ion irradiation and fault injection》《Characteristics of Secondary Ions and Their Impact on Single-Event Upset in TMD Devices Under Proton Irradiation》等论文，持有“基于Geant4的单粒子效应可视化蒙特卡洛模拟仿真软件V1.0”“基于核孔膜的数字电路芯片单粒子翻转甄别系统和方法”等发明专利 。

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